ATE - Function Test Input Data

입력 데이터

1. 입력 파형을 만드는 하드웨어

 

• 패턴메모리에 저장된 채널의 테스트 벡터의 입력 데이터는 입력 파형을 만들기 위해 포매터(formatter)로 이동한다.
• 포매터는 테스트벡터의 입력데이터를 파형의 형태를 결정하기 위해서 타이밍생성기(Timing Generator)와 연결된다.
• 파형의 전압레벨을 만드는 드라이버(driver)를 통해 실제 입력파형(input waveform)으로 DUT 입력핀에 공급된다.

타이밍생성기(Timing Generator)는 테스트주기, 각종 파형 발생을 위한 타이밍 엣지, 출력비교를 위한 스트로브 등의 타이밍을 생성하는 장치이다.

 

2. 타이밍 생성기

• 포매터는 테스트벡터의 입력데이터를 타이밍생성기(Timing Generator, TG) 또는 타이밍에지생성기(Timing Edge Generator, TEG)와 연결하여 파형의 형태를 결정한다.
• TG 또는 TEG는 파형 형태를 구성하기 위한 타이밍파라메터(Timing Parameter)들이 필요하다.
• 타이밍파라메터는 테스트프로그램에서 프로그램한다.

• TG 타이밍파라메터
  • TG 지연시간(TG delay) : T0과 TG에 의해 만들어진 펄스의 정에지 사이의 시간
  • TG폭(TG width) : TG에 의해 만들어진 펄스의 지속 시간

• TEG 타이밍파라메터
  • AEDGE : 데이터 천이엣지(Transition Edge)
  • BEDGE : 펄스의 정엣지(Positive Edge)
  • CEDGE : 펄스의 부엣지(Negitive Edge)